Si Windows


  • Matériel:Si
  • Tolérance de diamètre :+0.0/-0.1mm
  • Tolérance d'épaisseur :±0.1mm
  • Précision de surface : λ/4@632.8nm 
  • Parallélisme: <1'
  • Qualité de surface:60-40
  • Ouverture claire :>90 %
  • Biseautage : <0,2×45°
  • Enrobage:Design personalisé
  • Détail du produit

    Paramètres techniques

    Rapport d'essai

    Le silicium est un monocristal principalement utilisé dans les semi-conducteurs et n'absorbe pas les régions IR de 1,2 μm à 6 μm.Il est utilisé ici comme composant optique pour les applications de la région IR.
    Le silicium est utilisé comme fenêtre optique principalement dans la bande de 3 à 5 microns et comme substrat pour la production de filtres optiques.De gros blocs de silicium aux faces polies sont également utilisés comme cibles de neutrons dans les expériences de physique.
    Le silicium est développé par les techniques de tirage Czochralski (CZ) et contient de l'oxygène qui provoque une bande d'absorption à 9 microns.Pour éviter cela, le silicium peut être préparé par un procédé Float-Zone (FZ).Le silicium optique est généralement légèrement dopé (5 à 40 ohm cm) pour une meilleure transmission au-dessus de 10 microns.Le silicium a une bande passante supplémentaire de 30 à 100 microns qui n'est efficace que dans les matériaux non compensés à très haute résistivité.Le dopage est généralement au bore (type p) et au phosphore (type n).
    Application:
    • Idéal pour les applications NIR de 1,2 à 7 μm
    • Revêtement antireflet large bande de 3 à 12 μm
    • Idéal pour les applications sensibles au poids
    Caractéristique:
    • Ces fenêtres en silicium ne transmettent pas dans la région de 1 µm ou moins, donc leur application principale est dans les régions IR.
    • En raison de sa conductivité thermique élevée, il peut être utilisé comme miroir laser haute puissance
    ▶ Les fenêtres en silicone ont une surface métallique brillante ;il réfléchit et absorbe mais ne transmet pas dans les régions visibles.
    ▶ La réflexion de la surface des fenêtres en silicium entraîne une perte de transmission de 53 %.(données mesurées 1 réflexion de surface à 27 %)

    Portée de transmission : 1,2 à 15 µm (1)
    Indice de réfraction : 3.4223 à 5 μm (1) (2)
    Perte de réflexion : 46,2 % à 5 μm (2 surfaces)
    Coefficient d'absorption : 0,01cm-1à 3 μm
    Pic Reststrahlen : n / A
    dn/dT : 160 x 10-6/°C (3)
    dn/dµ = 0 : 10,4 μm
    Densité : 2,33 g/cc
    Point de fusion : 1420°C
    Conductivité thermique : 163,3 W·m-1 K-1à 273 000
    Dilatation thermique : 2,6 × 10-6/ à 20°C
    Dureté : Knoop 1150
    La capacité thermique spécifique : 703 J Kg-1 K-1
    Constante diélectrique : 13 à 10 GHz
    Module de Young (E) : 131 GPa (4)
    Module de cisaillement (G) : 79,9 GPa (4)
    Module de compressibilité (K) : 102 GPa
    Coefficients élastiques : C11=167 ;C12=65 ;C44=80 (4)
    Limite Élastique Apparente : 124,1 MPa (18 000 psi)
    Coefficient de Poisson : 0,266 (4)
    Solubilité : Insoluble dans l'eau
    Masse moléculaire : 28.09
    Classe/Structure : Diamant cubique, Fd3m

    1